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| 低溫試驗(yàn)箱GB 2423.1-89標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)述 |
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| 時(shí)間：2011-1-5 14:43:41 |
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GB 2423.1—89代替GB 2423.1—81低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn).本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC68—2—1《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：寒冷》（1974年版）及其第一次補(bǔ)充文件IEC 68—2—1A（1978）。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法。適用于非散熱和散熱的電工電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品）有低溫試驗(yàn)。
低溫試驗(yàn)箱GB 2423.1-89標(biāo)準(zhǔn)用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存（或）使用的適應(yīng)性。而不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力，這時(shí)應(yīng)當(dāng)采用GB 2423.22《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法》。本試驗(yàn)方法通常用在條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫試穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)時(shí)，是將具有室溫的試驗(yàn)樣品投入試驗(yàn)。當(dāng)試驗(yàn)樣品實(shí)際上是和某種特定的安裝架一起使用時(shí)，則試驗(yàn)時(shí)就應(yīng)使用這些安裝架。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品達(dá)溫度穩(wěn)定時(shí)開始計(jì)算；特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱達(dá)到規(guī)定溫度試驗(yàn)時(shí)開始計(jì)算。
低溫試驗(yàn)箱GB 2423.1-89標(biāo)準(zhǔn)下載地址:http://www.sylinpin.com |
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